12月8日消息,國產據“凌光紅外”公眾號發文,首臺凌光紅外正式推出商用激光誘導電阻變化檢測設備(LaserSight系列),凌光標志著國產電性失效分析設備在Thermal/EMMI/OBIRCH(TIVA)三大主流技術方向上實現全線貫通。紅外
OBIRCH(激光誘導電阻變化技術),激光鏡與熱發射、誘導光發射并列為電性失效分析領域的電阻三大標準定位方法。
該技術通過激光束掃描檢測因電阻變化反映的變化布電路內部缺陷,常用于定位金屬互聯故障、顯微短路等電性失效問題。國產
自1997年日本公司推出首臺商用設備以來,首臺OBIRCH技術及相關設備長期被少數國外廠商壟斷。凌光其中,紅外日本H公司與美國F公司占據超過80%的激光鏡市場份額,使該設備成為國內半導體分析領域典型的誘導“卡脖子”環節。
此次凌光紅外發布的LaserSight系列,首次實現了國產激光誘導電阻變化定位設備的自主供應。
截至2025年12月,該系列已完成多臺交付并穩定運行,性能對標國際旗艦產品。
LaserSight系列適用于金屬互聯缺陷、金屬/半導體短路等典型分析場景,可廣泛應用于集成電路、功率器件及光電器件等領域的失效定位,為國內半導體產業提供了又一關鍵環節的國產化檢測支持。


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