12月6日消息,無需在先進工藝發(fā)展路線中,也已5nm以下節(jié)點都轉(zhuǎn)向了EUV工藝,到年前DUV光刻微縮到7nm就已經(jīng)很難,工藝國產(chǎn)但這顯然不是專利準(zhǔn)備國內(nèi)發(fā)展的極限,未來可能一路做到2nm級別。無需
國內(nèi)的也已半導(dǎo)體工藝在未來幾年中需要在無EUV的情況下發(fā)展,但是到年前即便不考慮外部制裁的影響,追求DUV光刻工藝極限也是工藝國產(chǎn)需要發(fā)展的,國內(nèi)也早就在做這些研究。專利準(zhǔn)備
集邦科技科技日前的無需報道也舊事重提,指出華為早在2021年就發(fā)表了相關(guān)研究論文,也已提交的到年前專利申請介紹了SAQP(自對準(zhǔn)四重圖案化)的技術(shù),在沒有EUV光刻機的工藝國產(chǎn)情況下也能做到2nm級工藝。
該專利使用DUV光刻機及SAQP做出的專利準(zhǔn)備芯片柵極距低于21nm,這正是2nm工藝的門檻水平。
這里需要強調(diào)的是,很多報道中把SAQP翻譯成了四重光刻,這是錯誤的,四重圖案不等于四重光刻,這兩個意思有天淵之別,四重光刻不論技術(shù)上還是成本上都是不可接受的,幾乎沒有可能性。
此外,2nm工藝也不是華為等機構(gòu)的終點,華為還申請了大量GAA環(huán)繞柵極晶體管以及CFET互補氧化物晶體管相關(guān)的專利,后者則是公認的1nm以下到0.1nm節(jié)點的關(guān)鍵技術(shù)之一。
以上提及的主要是技術(shù)專利,不等于這些技術(shù)馬上就能量產(chǎn),但是這些技術(shù)研究證明了國內(nèi)在先進工藝上的探索不僅不會停止,而且會走出不一樣的路線。
這不僅會讓國內(nèi)的芯片不再受外部制裁的影響,更重要的是當(dāng)國內(nèi)用DUV路線做出2nm芯片時,臺積電、三星、Intel等公司用昂貴的EUV甚至High NA EUV光刻機生產(chǎn)芯片,哪邊會更怕競爭力不足呢?


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