三星宣布突破10nm DRAM技術(shù) 新型內(nèi)存容量、性能有望大提
12月17日消息,星宣型內(nèi)據(jù)The 布突Elec報(bào)道,三星宣布與三星先進(jìn)技術(shù)研究所已成功開發(fā)出一種新型晶體管,術(shù)新能夠?qū)崿F(xiàn)在10納米以下制程節(jié)點(diǎn)生產(chǎn)DRAM。存容
這一突破有望解決移動(dòng)內(nèi)存進(jìn)一步微縮所面臨的量性關(guān)鍵物理挑戰(zhàn),為未來設(shè)備帶來更高的星宣型內(nèi)容量與性能表現(xiàn)。
傳統(tǒng)DRAM制程的布突微縮在進(jìn)入10納米以下節(jié)點(diǎn)后,因物理極限而面臨嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。術(shù)新
三星此次推出的存容“高耐熱非晶氧化物半導(dǎo)體晶體管”具備極佳的高溫穩(wěn)定性,可在高達(dá)攝氏550度的量性條件下保持性能不衰退,從而適應(yīng)先進(jìn)制造工藝的星宣型內(nèi)要求。
該晶體管采用垂直溝道設(shè)計(jì),布突溝道長(zhǎng)度僅為100納米,術(shù)新且可與單片CoP DRAM架構(gòu)集成。存容測(cè)試結(jié)果顯示,量性其漏極電流表現(xiàn)穩(wěn)定,在長(zhǎng)期老化測(cè)試中也保持了良好的可靠性。
三星表示,該技術(shù)計(jì)劃應(yīng)用于未來的0a與0b級(jí)別DRAM產(chǎn)品中,目前仍處于研究階段。
預(yù)計(jì)搭載該技術(shù)的存儲(chǔ)芯片將有助于三星在高密度內(nèi)存市場(chǎng)保持競(jìng)爭(zhēng)力,并有望于2026年起陸續(xù)應(yīng)用于終端設(shè)備中。
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